主要技术特色
  • 标配高性能二次电子及4分割背散射探头
  • 一体集成式EDS探头,成像同时采集EDS结果
  • 标配低真空模式成像功能
  • 全自动马达控制及优中心倾转设计样品台
  • 配备性能优化灯丝
  • 直观友好用户界面设计
  • 低维护成本
卓越的分辨率

Magnificent resolution

NANOS性能优异满足各种应用场景

NANOS是一款全面且高性价比的台式扫描电子显微镜(SEM)。它采用最新技术进行设计,提供快速高质量的SEM成像和元素分析。它的设计先进且现代,非常适合科学研究、产品研发和工业用户使用。

配置丰富

NANOS标配 二次电子探头(SED)、背散射探头( BSD)、一体化集成能谱探测器(EDS) 及优中心设计样品台。

设计优良

NANOS采用了可靠的现代设计,并采用了最新的成像技术和成分分析探测器。

售后维护方便

NANOS的设计使您可以轻松进行维护和升级,这些维护和升级可以在您的场所完成,无需售后工程师上门。

可靠性高

凭借出色的稳定性和较小的占地面积,NANOS的架构确保了它可以在非实验室环境中使用,满足各种现场工况成像需求。

用户界面友好

NANOS软件为仅需快速简单SEM成像的人提供简易模式,同时也为深入进行样品分析需求提供高级模式,满足各种操作层次需求。

性价比高

NANOS提供丰富的配置及功能,同时能够保证用户能够承受的价格,满足更多用户的需求。

优中心设计样品台

NANOS是台式扫描电镜中唯一一家标配优中心设计样品台,能够通过用户控制界面实现电动XY轴样品台移动,在SEM成像模式下可采用优中心设计样品台倾转实现样品倾斜观察,且样品始终保持聚焦状态,无需重新对焦,用户界面实时显示精确样品台倾斜角度,最大倾斜角度为55°。

实时元素分析

NANOS配备了一体式集成硅漂移能量色散X射线探测器(EDS) 。通过用户界面,用户可以选择EDS点分析或实时元素面扫描。

丰富的探测器配置

NANOS标配二次电子探测器(SED)和背散射电子探测器(BSD)。BSD具有4象限检测功能。通过使用不同区域信号的组合,能够实现样品的成分或形貌细节独立成像,以及通过从多个方向突出显示表面而具有“投影成像效果”的图像。